IEC 60050-521-1984 国际电工词汇.第521章:半导体器件和集成电路
时间:2024-05-16 09:51:03 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8450
【英文标准名称】:InternationalElectrotechnicalVocabulary.Part521:Chapter521:Semiconductordevicesandintegratedcircuits
【原文标准名称】:国际电工词汇.第521章:半导体器件和集成电路
【标准号】:IEC60050-521-1984
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC1
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;半导体器件;电子设备及元件;集成电路;电子工程;词汇;电气工程
【英文主题词】:semiconductordevices;integratedcircuits;vocabulary;electricalengineering;definitions;electronicengineering;definition;electronicequipmentandcomponents
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40;K04
【国际标准分类号】:01_040_31;31_080_01;29_020;01_040_29
【页数】:98P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 外照射治疗辐射源检定规程 |
英文名称: | Radiation Source Used in the External Beam Radiotherapy |
中标分类: |
综合 >>
计量 >>
电离辐射计量 |
ICS分类: |
计量学和测量、物理现象 >>
辐射测量
|
替代情况: | 替代JJG 589-1989;JJG 590-1989;JJG 592-1989;JJG 664-1990;JJG 774-1992;被JJG 589-2009代替 |
发布日期: | 2001-03-02 |
实施日期: | 2001-06-01 |
首发日期: | |
作废日期: | 2009-06-22 |
出版社: | 中国计量出版社 |
出版日期: | 2004-04-19 |
页数: | 43页 |
书号: | 155026-1320 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
没有内容
所属分类: 综合 计量 电离辐射计量 计量学和测量 物理现象 辐射测量
基本信息
标准名称: | X射线衍射仪 技术条件 |
中标分类: |
仪器、仪表 >>
光学仪器 >>
电子光学与其他物理光学仪器 |
替代情况: | 转化为JB/T 9400-1999 |
发布日期: | |
实施日期: | 1990-01-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 电子光学与其他物理光学仪器